芯片競爭力分析第三方專業(yè)檢測機構服務內容

NPI失效分析咨詢與方案制定，RP/MP失效分析&方案討論，芯片級失效分析(EFA/PFA)，可靠性試驗失效分析。

服務范圍

大規(guī)模集成電路芯片

檢測項目

（1）芯片工藝分析：芯片外觀訊息，包括封裝級分析，封裝關鍵尺寸分析，封裝布局分析，芯片級分析，工藝分析，芯片平面布局評估，金屬層布局評估，塊狀布局評估分析。

（2）設計反向布局分析：芯片工藝確認&訊息收集，包括反向分析，板圖提取，工藝評估，IP分析。

相關資質

CNAS

芯片競爭力分析第三方專業(yè)檢測機構服務背景

隨著5G通信?主化腳步加快，半導體芯片結構和制造工藝也日益復雜。與此同時，市場要求更短的研發(fā)時間，企業(yè)研發(fā)難度與生產壓力極大。對于芯片設計單位，需要借鑒國際成熟設計經驗，減少設計彎路；對于芯片使用單位，需要思考如何做好芯片成本控制與產品優(yōu)選。

我們的優(yōu)勢

廣電計量技術團隊聚焦集成電路領域，擁有專家團隊及先進的分析設備，可為客戶提供高階工藝芯片競爭力分析，包括切入市場分析、研發(fā)分析、產品侵權等，助力國內?主設計公司快速準確了解市場新技術進展，有效縮短研發(fā)時程，快速切入市場。